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國產(chǎn)電鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡
國產(chǎn)電鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡。觀察亞微米級的微觀結(jié)構(gòu)，放大倍數(shù)可達300000倍。此型產(chǎn)品具有快速更換燈絲的優(yōu)點。其分辨率可達3 nm，在自動五軸樣品臺的配合下，...
國儀量子場發(fā)射掃描電子顯微鏡
國儀量子場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000Pro是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設(shè)計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，...
高溫高壓吸附儀
H-Sorb X600 系列高溫高壓吸附儀產(chǎn)品，是我公司自主研發(fā)的高性能吸脫附等溫線測試儀器，采用靜態(tài)容量法測量原理。可測試的等溫線溫度和壓強范圍滿足眾多科研領(lǐng)域需求。該系列產(chǎn)品的高性能，不僅實現(xiàn)了進...
鎖相放大器
國儀量子鎖相放大器LIA001M是一款集鎖相放大、虛擬示波分析、參數(shù)掃描、解調(diào)繪圖和數(shù)據(jù)分析等多種功能為一體的高性能鎖放。基于高性能數(shù)字信號處理技術(shù)和先進的硬件設(shè)計，能夠精確、快速的檢測出淹沒在強噪聲...
公司簡介
國儀量子的核心技術(shù)是以量子精密測量為代表的先進測量技術(shù)，為全球范圍內(nèi)企業(yè)、政府、研究機構(gòu)提供以增強型量子傳感器為代表的核心關(guān)鍵器件、用于分析測試的科學儀器裝備、賦能行業(yè)應(yīng)用的核心技術(shù)解決方案等優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)。公司源于中國科學技術(shù)大學，實驗室在高duan科學儀器、關(guān)鍵核心器件的研制領(lǐng)域深耕十余年，多項技術(shù)、研究成果突破國際封suo和禁運，并獲得”中國科學十da進展“”國家自然科學二等獎“”中國分析測試協(xié)會科學技術(shù)獎特等獎“等...
News
01什么是掃描NV探針顯微鏡（SNVM）？掃描NV探針顯微鏡（SNVM）是一款結(jié)合了金剛石氮-空位色心（NV）光探測磁共振（ODMR）技術(shù)和原子力顯微鏡（AFM）掃描成像技術(shù)的量子精密測量儀器，可實現(xiàn)對樣品高空間分辨率、高靈敏度、定量無損的磁成像。近年來，科學家利用SNVM在反鐵磁、石墨烯、磁性斯格明子、二維磁性材料、超導渦旋、古地磁與隕石等方向取得了一系列重大成果。1–8室溫版SNVM低溫版SNVM02SNVM比起磁力顯微鏡MFM和磁光克爾顯微鏡MOKE的獨特優(yōu)勢是什么？S...
材料微觀行為研究正迎來多場景耦合、原位動態(tài)表征的新時代。國儀量子推出創(chuàng)新性原位力學解決方案，憑借卓越的開放兼容性，實現(xiàn)全系列電鏡產(chǎn)品與市面上主流原位測試設(shè)備的無縫對接，為材料科學研究提供靈活、高效的多場景耦合分析平臺。該解決方案突破傳統(tǒng)封閉系統(tǒng)的局限，集合各種原位電鏡適配關(guān)鍵要素與一身，具備以下特點：大束流：優(yōu)于100nA，有利于快速分析EDS，EBSD等相關(guān)信息大空間：360MM×310MM×288MM（長寬高）大承重：5Kg（定制夾具最多支持10Kg）多視角：多位CCD保...
在材料高溫性能研究、相變機理分析等領(lǐng)域，傳統(tǒng)外部加熱手段往往無法實現(xiàn)微區(qū)精準控溫與實時觀測的結(jié)合。國儀量子聯(lián)合中國科學技術(shù)大學微納中心，自主研制原位加熱芯片解決方案，通過MEMS加熱芯片與雙束電鏡的深度融合，實現(xiàn)樣品在室溫至1100℃范圍內(nèi)的精準控溫與微觀動態(tài)分析，為高溫環(huán)境下材料行為研究提供全新工具。該方案采用國儀自研雙束電鏡與專用MEMS加熱芯片，控溫精度優(yōu)于0.1℃，測溫分辨率優(yōu)于0.1℃，同時具備溫度均勻性好、紅外輻射少等優(yōu)勢，有效保障高溫下的分析穩(wěn)定性。系統(tǒng)支持在加...
在材料分析與表征領(lǐng)域，單一技術(shù)往往難以同時獲取納米尺度的形貌與分子級別的化學信息。國儀量子創(chuàng)新推出電鏡-拉曼聯(lián)用解決方案，實現(xiàn)掃描電鏡高分辨率成像與拉曼光譜化學分析的真正原位融合，為多維度材料研究提供強大工具。國儀量子電鏡-拉曼聯(lián)用解決方案通過光路優(yōu)化與系統(tǒng)集成兩種方式，在同一平臺完成微區(qū)定位、形貌觀測與拉曼檢測，徹底解決傳統(tǒng)跨設(shè)備分析中的定位誤差問題。用戶可在SEM圖像中精準鎖定目標區(qū)域（如缺陷、界面、納米顆粒），直接激發(fā)拉曼激光，同步獲取成分、物相、應(yīng)力分布等化學結(jié)構(gòu)信息...
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